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ZEISS METROTOM 1工业CT

    一次扫描检查隐藏结构ZEISS METROTOM 1

  借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工业CT技术,只需一次扫描,任何人都能有效完成复杂的测量和检查任务。测量并检测接触式或光学测量系统无法检测到的隐藏缺陷和内部结构。另一个巧妙之处在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于体积小,CT扫描系统很容易便能放置于您的测量实验室之中,可以一次性完成内部测量和检查。

蔡司工业CT

  一个CT系统,兼具多种优势

  ZEISS METROTOM 1使用工业计算机断层扫描技术,是升级您的质量检查产品组合的理想设备。CT系统拥有许多优势:

蔡司工业CT

  操作简便

  ZEISS METROTOM 1是以用户为基础建造的。安装过程简单,只需进行少量培训就能使用CT。只需轻轻一点,即可开始扫描流程!

  精准的测量

  小而彻底:您可以使用ZEISS Metrotom 1测量并评估完整的零件。这样,您可以信赖您的测量,进行准确的数模比对、尺寸检查和壁厚分析。

  占地面积小

  蔡司METROTOM 1非常紧凑。尺寸为1750 mm(长) x 1820 mm(高) x 870 mm(宽)。这意味着CT系统适合任何测量实验室——可以让您在公司内部进行测量和质量保证,而无需外部测量服务。

  投资回报快

  购置成本低,且得益于合宜的系统维护保养费用,您的设备持有将变得物超所值:ZEISS METROTOM 1的射线管无需维护保养。

  ZEISS METROTOM 1——紧凑而可靠

  先进的CT技术,用于所有测量实验室

  蔡司是CT技术领域的专家,十多年以来,其METROTOM系列一直在提供可靠的CT系统。蔡司计算机断层扫描系统METROTOM 1现在为每个人都提供了可靠的X射线技术和无损质量保证。

  测量完整组件、 确保零件无瑕疵

  使用ZEISS METROTOM 1,您可以在您的测量实验室里轻松检测出工件的隐藏缺陷。无论是中型还是小型零件,是塑料还是轻金属材质 - 使用ZEISS METROTOM 1,您可以检查各种零件,如连接器、塑料盖、铝制零件等等。

蔡司工业CT

  GOM Volume Inspect

  全面的3D CT数据分析

  ZEISS METROTOM 1配有操作和检测软件GOM Volume Inspect(体积检测)。软件适合初学者使用,结合了CT流程的所有阶段——从扫描设置和重建,到数据评估和报告。软件可以精准地评估几何形状、孔隙或内部结构和装配情况。即使是超小的缺陷也可以通过单个截面图像看到,并且可以使用多种标准自动进行评估。只需一个软件,您就可以将几个组件的体积数据加载到项目中,执行趋势分析,并将采集到的3D数据与CAD模型进行比较等等。

  应用领域:

  无损检测、一次扫描多个工件。

  检查特点:

  测量内部和外部结构、检查内部缺陷(如缩孔)。

X射线源

160 kV

X射线探测器

2.5 k

测量容积

165 x 140 mm

测量规格(MPE SD)

< 5 μm

尺寸

1750 mm(宽) x 1820 mm(高) x 870 mm(厚)

重量

2100 kg

软件

GOM Volume Inspect体积检测(已包含)

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